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聯(lián)系人:范志華
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地址:惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫(xiě)字樓1707-1708
郵編:516003
郵箱:1932151337@qq.com
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貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試,采用的科技分析X熒光光譜,對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測(cè)器,運(yùn)用*于的基本參數(shù)法,能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
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Ux-6200貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試,采用的科技分析X熒光光譜,對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測(cè)器,其分辨率為149±5eV,運(yùn)用于的基本參數(shù)法,能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。
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貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試,采用的科技分析X熒光光譜,對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測(cè)器,運(yùn)用于的基本參數(shù)法,能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
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貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試,采用的科技分析X熒光光譜,對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測(cè)器,其分辨率為149±5eV,運(yùn)用*于的基本參數(shù)法,能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。
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貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試,采用的科技分析X熒光光譜,對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測(cè)器,運(yùn)用*于的基本參數(shù)法,能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
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X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術(shù),可快速準(zhǔn)確定量分析土壤中鎘等重金屬元素,其*越檢測(cè)性能可以滿足中國(guó)農(nóng)用土壤監(jiān)管法規(guī)要求(GB15618-2018),檢出限輕松應(yīng)對(duì)鎘元素的法規(guī)限值0.3mg/kg。